TOKYO BOEKI - дистрибьютор Proto Manufacturing в России и СНГ
+7 (495) 223-40-00
Рентгеновские дифрактометры
Оборудование для анализа материалов
toggle menu
+7 (495) 223-40-00
TOKYO-BOEKI

Дифрактометр AXRD Theta-Theta

Напольный дифрактометр AXRD Theta-Theta был разработан для работы с более крупными образцами, а также для тех случаев, когда требуется больше места для проведения различных измерений с использованием широко спектра различных приставок (температурные столики нагрева и охлаждения от -190°C до 2000°C, камеры давления, вакуумные камеры и т.п.).

Опция FlexStage упрощает монтаж больших образцов.

ВОЗМОЖНОСТИ:
  • Качественный фазовый анализ;
  • Количественный фазовый анализ;
  • Определение степени кристалличности;
  • Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки;
  • Уточнение параметров решетки;
  • Уточнение структуры материала методом Ритвельда;
  • Анализ тонких покрытий;
  • Определение молекулярной структуры.
СПЕЦИФИКАЦИЯ
Геометрия Вертикальный θ/θ
Радиус гониометра 200 мм
Угол сканирования от -4° до 150° 2θ
Шаг двигателя 0.0001°
Точность < ± 0.01° (2θ)
Щели щели расхождения и анти-рассеивающие, приемная щель,щель Соллера, многослойная оптика (параллельный луч, сфокусированный луч)
Достижимая ширина пика < 0.04° 2θ
Рентгеновская трубка Стандарт: длинная тонкофокусная трубка Cu, 2.2кВт.
Опция: Cr, Co, Mo, Ag
Генератор 1200 Вт
Охлаждение трубки Встроенный автономный рециркулятор-охладитель типа вода-воздух
Детектор SPD (точечный) или MYTHEN2 R 1D, MYTHEN2 R 1K (линейный), EIGER2 500K (площадь)
Держатель образцов Одинарный, массивный образец, вращение,
много позиционный
Приставки Температурные, под давление, низкий или высокий вакуум влажность
Размер 144×92×195 см (Ш×В×Г)
Вес 400 кг
Питание 200 – 240 В, 50/60 Гц, 22А
Превосходное разрешение, точность и качество данных:
Кремниевый точечный детектор SPD, производства PROTO
Улучшенный одноканальный, линейный детектор Dectris Mythen2R 1D
Высокоскоростной линейный детектор Dectris Mythen2R 1K
Высокоскоростной линейный детектор Dectris EIGER2 R 500K для 2D порошковой дифракции
Держатели образцов:

Доступны различные типы держателей образцов, позволяющие удовлетворить потребности любой лаборатории.

  • Держатели образцов диаметром 28 мм;
  • Держатели образцов с обратной загрузкой для смены шести образцов;
  • Si плоский держатель нулевого фона;
  • Si плоский держатель нулевого фона с полостью;
  • Диски из плавленого кварца с низким фоном;
  • Стеклянные диски (для нанесения жидкой суспензии или пылеобразного порошка);
  • Изготовленные на заказ держатели образцов.
Дополнительные аксессуары:
Низкотемпературная камера ТТК600
Компактные столики нагрева BTS 150, BTS 500
Камера реактора XRK 900
Высокотемпературная камера HTK 1200N
Камера регулируемого давления PS30
Высокотемпературные камеры c ленточным нагревом HTK 16N, HTK 2000N
Столик FlexStage для большого образца
Пользовательские столики и держатели
Вращающийся столик для одного образца
6-ти позиционный сменщик образцов
Герметичная камера образцов с защитой от атмосферы.
Программное обеспечения XRDWIN 2.0 PD для получения дифрактограмм

Компания Proto Mfg. поставляет универсальное программное обеспечения XRDWIN 2.0 PD собственной разработкой для всех типов порошковых дифрактометров собственного производства. Программное обеспечение XRDWIN 2.0 PD позволяет легко настроить персонализированные параметры сканирования для отдельных режимов съемки и анализировать данные в режиме реального времени. Встроенные подсказки оптимизируют юстировку и калибровку, делая процесс доступным даже для начинающего пользователя.

Программное обеспечение PDAnalysis для обработки дифрактограмм

Универсальное программное обеспечение PDAnalysis позволяет пользователю анализировать данные, полученные с помощью ПО XRDWIN 2.0 PD. PDAnalysis имеет неограниченное количество лицензий и позволяет пользователям работать со своими данными в лаборатории или в другом, удобном, для них месте, включая удаленно.

Расширенные функции этой программы позволяют пользователю проводить качественный и количественный анализ, в том числе:

  • Подгонка и разделения пиков Kα1 и Kα2;
  • Сглаживание данных;
  • Сглаживание и вычитание фона;
  • Поиск и подгонка пиков;
  • Количественный фазовый анализ;
  • Поиск и сопоставление данных с базами данных COD и ICDD;
  • Метод сравнения интенсивности линий по эталонам;
  • РФА калибровка и анализ данных, полученных кремневым точечным детектором;
  • Анализ размера и деформации кристаллитов, полюсные фигуры и текстура;
  • Уточнение параметров решетки и индексирование;
  • Анализ остаточного аустенита и остаточного напряжения;
  • Кривые рентгеновской отражательной способности (XRR), кривые качания и карты обратного пространства;
  • Другие специализированные методы.