Настольный дифрактометр AXRD

Описание
Аксессуары и опции
Программное обеспечение

Настольный дифрактометр AXRD – классический порошковый дифрактометр, который представляет собой недорогое, идеальное решение в области исследования материалов методом рентгеновской дифракции. Эта компактная модель не имеет себе равных по своим возможностям, обеспечивая высокий уровень производительности и максимум гибкости даже для самых требовательных исследований. Настольная система AXRD широко используется для обучения основам рентгеновской дифракции в университетах, для ежедневного рутинного анализа и контроля качества в исследовательских лабораториях и на производстве.

Настольный дифрактометр AXRD единственный в мире из настольных дифрактометров, у которого радиус гониометра может быть установлен на 143 мм для более высокой интенсивности линий или на 191 мм для более высокого разрешения дифракционных пиков, что позволяет реализовать методику скользящего пучка (Grazing Incidence of Diffraction).

При небольших размерах и стоимости настольная модель AXRD обладает всеми функциями самого сложного порошкового дифрактометра. Благодаря достижимому пиковому разрешению FWHM < 0.04° 2θ и угловой точности < ± 0.02° 2θ во всем угловом диапазоне, настольный дифрактометр AXRD способен показывать высококачественные результаты, не занимая пространственного места, свойственного традиционному дифрактометру.

Достижимое пиковое разрешение FWHM 2θ и угловая точность 2θ.

Пример сканирования тестового образца.
Образец: гексаборид лантана (LaB₆).

Пример сканирования под скользящим лучом.
Образец: бегенат серебра (AgC₂₂H₄₃O₂).

Пример сканирования под скользящим лучом.
Образец: Сплав Ti с покрытием CrN. ВОЗМОЖНОСТИ:

Качественный фазовый анализ;
Количественный фазовый анализ;
Определение степени кристалличности;
Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки;
Уточнение параметров решетки;
Уточнение структуры материала методом Ритвельда;
Анализ тонких покрытий;
Определение молекулярной структуры.

СПЕЦИФИКАЦИЯ
Геометрия	Вертикальный θ/2θ
Радиус гониометра	143 мм (высокая интенсивность) 191 мм (высокое разрешение)
Угол сканирования	от -4° до 154° 2θ
Шаг двигателя	0.0003°
Точность	± 0.02° (2θ)
Щели	щели расхождения и анти-рассеивающие, приемная щель, щель Соллера, многослойная оптика (параллельный луч)
Достижимая ширина пика	0.05° 2θ (143 мм) или < 0.04° 2θ (191 мм)
Рентгеновская трубка	Стандарт: тонкофокусная трубка Cu, 1.5кВт. Опция: Cr, Co, Mo
Генератор	600 Вт
Охлаждение трубки	Встроенное
Детектор	SPD (точечный) или MYTHEN2 R 1D, MYTHEN2 R 1K (линейный)
Держатель образцов	Одинарный, массивный образец, вращение, 6-ти позиционный
Приставки	Температурные, под давление, влажность
Размер	720×510×640 мм (Ш×В×Г)
Вес	95 кг
Питание	230±10% В, 1 фаза 50/60 Гц ±1%, 10А

Превосходное разрешение, точность и качество данных:

Кремниевый точечный детектор SPD, производства PROTO

Улучшенный одноканальный, линейный детектор Dectris Mythen2R 1D

Высокоскоростной линейный детектор Dectris Mythen2R 1K

Держатели образцов:

Доступны различные типы держателей образцов, позволяющие удовлетворить потребности любой лаборатории.

Держатели образцов диаметром 28 мм;
Держатели образцов с обратной загрузкой для смены шести образцов;
Si плоский держатель нулевого фона;
Si плоский держатель нулевого фона с полостью;
Диски из плавленого кварца с низким фоном;
Стеклянные диски (для нанесения жидкой суспензии или пылеобразного порошка);
Изготовленные на заказ держатели образцов.

Дополнительные аксессуары:

Компактные столики нагрева и охлаждения

Камера регулируемого давления

Вращающийся столик для одного образца

6-ти позиционный сменщик образцов

Герметичная камера образцов с защитой от атмосферы

Программное обеспечения XRDWIN 2.0 PD для получения дифрактограмм

Компания Proto Mfg. поставляет универсальное программное обеспечения XRDWIN 2.0 PD собственной разработкой для всех типов порошковых дифрактометров собственного производства. Программное обеспечение XRDWIN 2.0 PD позволяет легко настроить персонализированные параметры сканирования для отдельных режимов съемки и анализировать данные в режиме реального времени. Встроенные подсказки оптимизируют юстировку и калибровку, делая процесс доступным даже для начинающего пользователя.

Программное обеспечение PDAnalysis для обработки дифрактограмм

Универсальное программное обеспечение PDAnalysis позволяет пользователю анализировать данные, полученные с помощью ПО XRDWIN 2.0 PD. PDAnalysis имеет неограниченное количество лицензий и позволяет пользователям работать со своими данными в лаборатории или в другом, удобном, для них месте, включая удаленно.

Расширенные функции этой программы позволяют пользователю проводить качественный и количественный анализ, в том числе:

Подгонка и разделения пиков Kα1 и Kα2;
Сглаживание данных;
Сглаживание и вычитание фона;
Поиск и подгонка пиков;
Количественный фазовый анализ;
Поиск и сопоставление данных с базами данных COD и ICDD;
Метод сравнения интенсивности линий по эталонам;
РФА калибровка и анализ данных, полученных кремневым точечным детектором;
Анализ размера и деформации кристаллитов, полюсные фигуры и текстура;
Уточнение параметров решетки и индексирование;
Анализ остаточного аустенита и остаточного напряжения;
Кривые рентгеновской отражательной способности (XRR), кривые качания и карты обратного пространства;
Другие специализированные методы.